Статья: Динамика формирования поверхности проводящих пленок алюминия на аморфных подложках (2019)

Читать онлайн

В работе рассматривается динамика роста тонких пленок алюминия на стеклянной подложке с неоднородностями порядка 15 нм и шероховатостью поверхности порядка 2 нм. В качестве объекта исследования использовались пленки алюминия, осажденные в условиях промышленного вакуума. Показан характер изменения рельефа металлических пленок алюминия с увеличением объемной массы. Произведен анализ морфологии поверхности подложки, в качестве которой используется стекла, предназначенные для высококачественной рентгеновской фотографии.

Consideration is given to the growth dynamics of thin aluminum films on a glass substrate with inhomogeneous surface of the order of 15 nm peak range of thickness and surface roughness of the order of 2 nm cavities. Aluminum films deposited within industrial vacuum were used as the object of this research. The nature of the aluminum films relief changes is shown with the rise of the metallic bulk mass. The surface morphology analysis of the substrate, which is used as a glass designed for high-quality X-ray photographs, is provided.

Ключевые фразы: морфология поверхности, атомно-силовая микроскопия, тонкие проводящие пленки, шероховатость поверхности
Автор (ы): Старостенко Владимир Викторович, Мазинов Алим Сеит-Аметович, Фитаев Ибраим Шевкетович, Таран Евгений Владимирович, Орленсон Вульф Борисович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
537.86.029. Частотные диапазоны электромагнитных колебаний
537.9. Физика конденсированного состояния
549.086. Микроскопическое исследование и определение
eLIBRARY ID
39286907
Для цитирования:
СТАРОСТЕНКО В. В., МАЗИНОВ А. С., ФИТАЕВ И. Ш., ТАРАН Е. В., ОРЛЕНСОН В. Б. ДИНАМИКА ФОРМИРОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПРОВОДЯЩИХ ПЛЕНОК АЛЮМИНИЯ НА АМОРФНЫХ ПОДЛОЖКАХ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №4
Текстовый фрагмент статьи