Статья: Электрополевая дефектоскопия полупроводниковых фотопреобразователей в режиме бесконтактного сканирования (2019)

Читать онлайн

Продемонстрирована возможность дефектоскопии фотоэлектрических преобразователей (ФЭП) на основе монокристаллического кремния путем их бесконтактной (дистантной) электрополевой визуализации на рентгеновской фотопленке Retina. С помощью специально разработанного устройства для ее реализации диагностирован технологический дефект, возникший на поверхности заготовки кремния при его подготовке к диффузионному легированию и маскированный различными покрытиями на последующих стадиях изготовления ФЭП.

The possibility of testing of photoelectric cell based on monocrystalline silicon was demonstrated by their non-contact (distant) electric-field visualization on a «Retina» X-ray film. With the help of a specially developed device for its implementation, a technological defect has been diagnosed that has arisen on the surface of a silicon billet during its preparation for diffusional doping and masked by various coatings at subsequent stages of photoelectric cell production.

Ключевые фразы: фотоэлектрический преобразователь, монокристаллический кремний, электрополевая визуализация, электрополевое изображение, рентгеновская фотопленка, поляризационный заряд
Автор (ы): Шишканов Олег Николаевич, Бойченко Александр Павлович
Журнал: ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
620.192. Внутренние дефекты и их выявление
eLIBRARY ID
39286912
Для цитирования:
ШИШКАНОВ О. Н., БОЙЧЕНКО А. П. ЭЛЕКТРОПОЛЕВАЯ ДЕФЕКТОСКОПИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ В РЕЖИМЕ БЕСКОНТАКТНОГО СКАНИРОВАНИЯ // ПРИКЛАДНАЯ ФИЗИКА. 2019. №4
Текстовый фрагмент статьи