Статья: Учет заряда поверхностных состояний в компактной модели МОП-транзистора для БИС считывания охлаждаемых фотоприемных устройств (2019)

Читать онлайн

В работе представлена компактная модель МОП-транзистора для криогенных температур на основе линеаризации инверсионного заряда. В базовую электростатику ядра модели включено влияние заряда поверхностных состояний с экспоненциальным энергетическим распределением, зависящего от напряжения. Выведены уравнения для тока канала и полных зарядов для квазистатической динамической модели через инверсионный заряд. Точность модели была подтверждена с помощью приборно-технологического моделирования в TCAD.

This paper presents a physics-based analytical compact model for MOS transistors operat-ing at cryogenic temperature, the model is based on inversion charge linearization. Influ-ence of bias dependent surface traps charge with exponential distribution is included in electrostatics in core of the compact model. The expressions of current and quasistatic dy-namic model are derived in terms of inversion charge and results are validated with technology computer-aided design (TCAD) data.

Ключевые фразы: МОП-ТРАНЗИСТОР, криогенная температура, БИС считывания, фотоэлектроника, компактная модель, поверхностные состояния, низкотемпературная электроника, приборно-технологическое моделирование
Автор (ы): Якимов Юрий Александрович, Мощев Иван Сергеевич, Диденко Сергей Иванович
Журнал: УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ

Предпросмотр статьи

Идентификаторы и классификаторы

SCI
Физика
УДК
621.382. Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника
eLIBRARY ID
41751373
Для цитирования:
ЯКИМОВ Ю. А., МОЩЕВ И. С., ДИДЕНКО С. И. УЧЕТ ЗАРЯДА ПОВЕРХНОСТНЫХ СОСТОЯНИЙ В КОМПАКТНОЙ МОДЕЛИ МОП-ТРАНЗИСТОРА ДЛЯ БИС СЧИТЫВАНИЯ ОХЛАЖДАЕМЫХ ФОТОПРИЕМНЫХ УСТРОЙСТВ // УСПЕХИ ПРИКЛАДНОЙ ФИЗИКИ. 2019. ТОМ 7, №6
Текстовый фрагмент статьи