Доклад: Исследования особенностей поверхности эпитаксиальных пленок HgTe методом дифференциальной интерференционно-контрастной микроскопии
Докладчик
Соавтор(ы)
Климов Евгений Александрович
Тип доклада
Устный
Секция программы
Дата и время
пятница, 07 фев (начало в 12:00)
Обсуждение доклада
Новых тем пока нет
Создайте тему для обсуждения, если у вас есть вопросы или предложения по докладу.
Другие доклады секции: 16
11:30 |
Перерыв
12:00 |
Исследования особенностей поверхности эпитаксиальных пленок HgTe методом дифференциальной интерференционно-контрастной микроскопии
13:00 |
Обед
15:30 |
Перерыв (подсчёт баллов)